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全球显示器缺陷检测系统领导者瑞淀光学系统将展示最新OLED屏检测技术

导读: OLED显示屏使用可以发光的有机半导体材料,通电时会发出光线,正因为如此,OLED显示屏不需要背光。

自去年以来,全球OLED产业实现了新一轮更大规模的发展,顺应全球OLED产业强劲发展和京津冀协同发展的需求,9月26日-27日,在天津市滨海新区人民政府的支持下,中国OLED产业联盟再度联手全球显示行业学协会组织和政府界、学术界、产业界、金融界、投资界和新闻界各路精英将以“OLED——开创显示产业新格局”为主题移师天津举办“2017中国国际OLED产业大会”,旨在共享全球OLED产业发展的最新成果,共论全球OLED产业发展的最新趋势,共同打造一个全球OLED产业精英进行多层次、多领域深入交流探讨的全产业、全链条、全生态的国际交流平台。

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演讲嘉宾:瑞淀光学系统亚洲区技术总监孙川礼

演讲主题:新型显示技术(OLED)的自动化视觉检测和补偿校正

OLED显示屏使用可以发光的有机半导体材料,通电时会发出光线,正因为如此,OLED显示屏不需要背光。同时,OLED显示像素由红色、绿色和蓝色子像素组成,各个子像素的输出是独立控制的。由于生产差异的存在,在相同色彩的子像素填充显示器的整个过程中,即使是相同的电信号输入,也可能会出现亮度差异。这会导致各像素之间存在亮度差异。

然而,OLED显示器子像素亮度水平不一致所产生的另一个影响是降低色彩精度,导致整个显示器色彩不均匀。为实现精确且均匀的色彩,每一个子像素的亮度都必须保持在严格的界限以内。而现实情况是,即使是在高度控制的制造过程中,OLED显示器中的子像素在亮度水平上也存在显著的差异。如果这些差异未得到校正,整个显示器上将缺乏色彩均匀性,这会导致画面质量降低到可能无法接受的水平,进而使产量降低。

在此次演讲中,瑞淀光学系统亚洲区技术总监孙川礼将向大家详细介绍基于高精度成像色度计的AOI缺陷检测系统如何轻松适应OLED显示器生产测试的需求, 内容涉及:

1OLED像素级缺陷检测,评估整体显示质量(比如均匀性和色彩精度)和像素级缺陷;

2量化评估缺陷,精确筛选OLED良品与次品;

3针对有缺陷的OLED进行像素级校正(DEMURA)。

孙川礼先生,瑞淀光学系统 (Radiant Vision Systems)亚洲区技术总监,主要负责向亚洲区显示器品牌商及面板制造商提供基于AOI集成成像系统严格评估LCD/OLED产品缺陷的技术检测方案和技术支持。孙川礼先生于2006年加入瑞淀光学系统美国总部,并于2011年底被委派至瑞淀光学系统中国分公司,全面主持亚洲区技术管理工作。

孙川礼先生1983年毕业于上海理工大学光学仪器专业, 2005年毕业于美国俄亥俄州立大学计算机专业。

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